1、被測(cè)材料自身含磁

 

    有些材料在加工過(guò)程中或一定工藝要求，使被測(cè)材料內(nèi)有剩余磁場(chǎng)。由于其分布不均，所以導(dǎo)致的測(cè)量誤差也不一致，會(huì)出現(xiàn)在同一工件上某些部位的測(cè)量值突然變大或變小。

 

    2、被測(cè)材料結(jié)構(gòu)不同，形狀不同在不同結(jié)構(gòu)的工件上，磁場(chǎng)分布會(huì)隨著結(jié)構(gòu)、形狀不同而不同，會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。

 

    3、同一材料的不同部位，德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀也可能產(chǎn)生磁場(chǎng)的變化，如材料的邊緣與中間區(qū)域，其磁場(chǎng)分布不一樣，會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。

 

    4、被測(cè)材料的性質(zhì)不同，其磁通量就會(huì)不同，這也是產(chǎn)生誤差原因之一。

 

    5、材料的大小、厚度不同，也可以導(dǎo)致測(cè)量誤差。

 

    6、被測(cè)材料表面不夠光滑，也是產(chǎn)生誤差的原因。

 

    影響德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素

 

    1、基體金屬磁性質(zhì)

 

    磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)

 

    基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

 

    2、基體金屬厚度

 

    每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

 

    3、邊緣效應(yīng)

 

    德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

 

    4、 曲率

 

    試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

 

    5、試件的變形

 

    測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù)。

 

    6、表面粗糙度

 

    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

 

    7、附著物質(zhì)

 

    本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

 

    8、 測(cè)頭壓力

 

    測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

 

    9、測(cè)頭的取向

 

    德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。